

- 半導體測試分選設備
本設備是一臺用于IC終端測試(FT)階段的高效分選機,采用JEDEC Tray供料方式,矩陣式吸嘴支持64個吸嘴獨立控制,配有無氮可編程三溫調節系統,實現溫度精準控制,可搭載不同的測試刺激室,為MEMS傳感器及Memory/MCU等產品測試校準提供精準刺激,設備已實現規?;慨a測試,具備高性能、高穩定性和高效率的優勢。

本設備是一臺用于IC終端測試(FT)階段的高效分選機,采用JEDEC Tray供料方式,矩陣式吸嘴支持64個吸嘴獨立控制,配有無氮可編程三溫調節系統,實現溫度精準控制,可搭載不同的測試刺激室,為MEMS傳感器及Memory/MCU等產品測試校準提供精準刺激,設備已實現規?;慨a測試,具備高性能、高穩定性和高效率的優勢。